La longitud de onda de los rayos X es del orden de los espaciados de las redes cristalinas, por lo que la difracción de rayos X se emplea como técnica para identificar sustancias a partir de su estructura cristalina. Los difractogramas muestran picos que son como una huella dactilar de cada sustancia cristalina, al igual que ocurre con otros patrones espectrométricos. También es posible crear modelos del interior de los cristales a partir de los patrones de interferencia de los rayos X con la red cristalina.
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